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标准编号
GB/T 1557-2006
标准名称
GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 (英文版)
英文名称
The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
发布日期
2006-07-18
实施日期
2006-11-01
全文页数
7
原版价格
10.00元
是否译文
是
译文报价
270.00元
译文格式
Word/PDF
目录简介
本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶中的间隙氧含量的方法。
本标准适用于室外温电阻率大于0.1Ω·cm的n型硅单晶和室温电阻率大于0.5Ω·cm 中间的p型硅单晶中间隙氧含量的测量。
本标准测量氧含量的有效范围从1×1016at·cm-3到硅中间隙氧的最大固熔度。
关键字
GB/T 1557 English Code
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