GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法（英文版）北京翻译公司|北京市翻译|北京文心雕语翻译公司

标准编号	GB/T 11685-2003
标准名称	GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法（英文版）
英文名称	Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
发布日期	2003-07-07
实施日期	2004-01-01
全文页数	26
原版价格	15.00元
是否译文	是
译文报价	520.00元
译文格式	Word/PDF
目录简介	本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。
关键字	GB/T 11685 英文版 English Version